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T3ster — 功率電子熱測試設備

       T3ster 是美國Mentor Graphics 公司研發的瞬態熱測試儀,基于國際標準的靜態實驗方法JESD51-1,測量IGBT、MOS 管、功率二極管、三極管、LED、微機電系統等半導體電子器件的熱阻、熱容特性,用于新能源汽車、交通、工業、電力電子等行業的功率電子無損檢測、功率循環測試等。

 

產品介紹

       T3ster 的基本配置包括測試主機以及PC 端的測量控制和結果分析軟件,T3ster 擴展應用配置包括TeraLED、DynTIM和Power Tester 1500A。

 

T3ster

•  實現芯片結溫、結殼熱阻、內部各層熱容-熱阻等熱特性的快速無損測量,可用于電子元器件的校準,實現接觸熱阻測量

•  可用于芯片缺陷檢測或故障分析以及PCB焊點的可靠性測試

•  可為FloTHERM提供詳細的熱特性數據,幫助快速建立和修正仿真模型

•  高達1μs系統瞬態測試間隔下,擁有市場更高靈敏度(其溫度分辨率達0.01 攝氏度)

 

 

TeraLED

•  擁有高精度的輻射和光學測量儀,能對LED熱特性包括溫度、壽命和可靠性等進行全面準確的測量

•  其自帶軟件能自動分析光通量、光效率、效能以及色差坐標,數據可直接導入Flotherm/FloEFD 進行后續LED 燈總成的熱分析

 

 

DynTIM

•  熱界面材料(TIM)熱特性測試的行業先進設備,與T3Ster配合,測試材料分辨率可達1μm

•  提供業界先進的TIM測試方案,其相對精度高達±5%

•  可實現多種可壓縮材料如導熱硅膠、散熱墊、各種相變材料以及其他粘合劑和固體試樣等的熱測試

 

 

Power Tester 1500A

•  廣泛應用于汽車、鐵道等 IGBT 熱特性的無損檢測,以及IGBT 的加速疲勞特性測試

•  集功率循環、熱瞬態測試、熱結構函數分析于一身

•  內置多種功率加載模式,如恒定功率、恒定溫升、恒定電流

•  實時故障原因診斷,如芯片鍵合線斷開、芯片及封裝內材料分層與破損、焊膏老化等

• fg美人捕鱼 全周期連續監控,可監控從起始到失效的全過程

•  使用靈活,單通道最大500A,三個通道可獨立使用也可聯立使用

 

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